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產(chǎn)品分類
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:顯微分光厚膜儀

  • 產(chǎn)品型號:OPTM
  • 產(chǎn)品廠商:Otsuka
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
Otsuka 顯微分光厚膜儀可以用于測量目標(biāo)膜的**反射率,高精度測量膜厚和光學(xué)常數(shù)。廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、食品、化工、半導(dǎo)體、材料科學(xué)以及電子行業(yè)。 顯微分光厚膜儀產(chǎn)品的主要特點(diǎn):厚膜測量的主要功能集中在顯微厚膜嵌入頭;利用顯微分光實(shí)現(xiàn)高精度**反射率測量,分析多層薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)(n:折射率,k:消光系數(shù));單點(diǎn)對焦測量時間小于1s;顯微分光厚膜儀顯微下具有較寬的測定波長范圍(紫外~近紅外);初學(xué)者也可以輕松的利用解析軟件進(jìn)行光學(xué)常數(shù)解析;搭載macro功能,可以自定義各種測量情況。
詳情介紹:
  1. 顯微分光厚膜儀性能參數(shù)               

階    段 OPTM-A1 OPTM-A1 OPTM-A1
波長范圍 230nm~800nm 360nm~1100nm 900nm~1600nm
膜厚范圍 1nm~35μm 7nm~49μm 16nm~92μm
測定時間 1秒/點(diǎn)
光徑大小 10μm(可小至約5μm)
檢 測 器 CCD CCD InGaAs
光    源 氘燈+鹵素?zé)? 氘燈+鹵素?zé)? 鹵素?zé)?
電源規(guī)格 AC100V±10V 500VA (自動樣品臺規(guī)格)
尺    寸 556(W)×566(D)×618(H)(自動樣品臺主體規(guī)格)
重    量 約55kg(自動樣品臺主體規(guī)格)

  • 顯微分光厚膜儀應(yīng)用特點(diǎn)

      1.反射對物鏡片實(shí)現(xiàn)透明基板的高精度測定

       如果是透明基板,因里面的反射光而無法正確測出膜厚。通過反射対物鏡片,可物理性的消除里面反射。即使是透明基板也可測出高精度的膜厚。特別是對帶有光學(xué)非均質(zhì)的基板效果很好。

      2.顯微分光厚膜儀在微小區(qū)域測定所瞄定的模式或部位

      在軟件上通過同時顯示樣品畫面和測定光采取部位,可很好的確認(rèn)到測定點(diǎn)。特別是對有微小點(diǎn)(直徑≥3μm)的形狀的樣品。


      3.顯微分光厚膜儀在紫外區(qū)域?qū)崿F(xiàn)極薄膜的測定

      在光干涉法中,膜越薄反射率的變化就越小。在紫外區(qū)域,由于膜厚反射率的變化相比可視區(qū)域要大,如果厚度為1nm左右的極薄膜,在紫外區(qū)域的測定效果很好。


     4.顯微分光厚膜儀在近紅外區(qū)域?qū)崿F(xiàn)帶色樣品的測定

      在可視區(qū)域,即使時吸收較強(qiáng)的彩色膜等帶色的樣品,在近紅外區(qū)域幾乎會變得很透明,所以在近紅外區(qū)域的測定效果很好。


      5.自動XY平臺實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動檢測

      OPTM標(biāo)配XY自動平臺,僅需輸入坐標(biāo)即可自動多點(diǎn)檢測大面積樣品, 實(shí)時獲取厚度分布圖。平臺設(shè)有防誤觸光欄,避**測過程誤觸。平臺尺寸200mm×200mm,可以檢測12寸晶圓。


      6.顯微分光厚膜儀的操作便捷,檢測時間短

      QC模式—點(diǎn)擊即檢測;

      R&D模式—非標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測時間小于1s。


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