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光學(xué)測厚儀
Ametek（阿美特克）：美國品牌重慶掃描色差儀報(bào)價(jià)，提供包括在線和離線類型在內(nèi)的各種類型的測厚儀重慶掃描色差儀報(bào)價(jià)，滿足不同用戶的需求。Flir（費(fèi)勒爾）：美國品牌，其紅外測厚儀非常著名，適用于需要非接觸式測量的場景。ZEISS（蔡司）：德國品牌，以其出色的光學(xué)測厚儀而聞名，適用于對精度要求極高的測量任務(wù)。
光學(xué)薄膜測厚儀的核心技術(shù)介紹和原理說明：SpectraThick系列的特點(diǎn)在于其非接觸式、非破壞性的測量方式，無需對樣品進(jìn)行任何預(yù)處理。該系列儀器支持Windows操作系統(tǒng)，操作簡便。ST系列專門用于測量wafer、glass等基片上形成的氧化膜、氮化膜、光刻膠等非金屬薄膜的厚度。
厚度儀：這是專門用于測量厚度的儀器，根據(jù)工作原理不同有超聲厚度儀、磁性厚度儀等。超聲厚度儀通過超聲波在材料中的傳播時(shí)間來測量厚度，可測各種材料重慶掃描色差儀報(bào)價(jià)；磁性厚度儀適用于測量磁性基體上非磁性涂層的厚度。
光學(xué)薄膜測厚儀 (SpectraThick Series) 的核心技術(shù)介紹和原理說明 SpectraThick series的特點(diǎn)是非接觸， 非破壞方式測量，無需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統(tǒng)等。ST series是使用可視光測量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金屬薄膜厚度的儀器。
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